| Moteur de recherche de fiches techniques de composants électroniques |
|
STF36N60M6 Fiches technique(PDF) 7 Page - STMicroelectronics |
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||
STF36N60M6 Fiches technique(HTML) 7 Page - STMicroelectronics |
|
7 / 13 page ![]() 3 Test circuits Figure 13. Test circuit for resistive load switching times AM01468v1 VD RG RL D.U.T. 2200 μF VDD 3.3 μF + pulse width VGS Figure 14. Test circuit for gate charge behavior AM01469v1 47 kΩ 1 kΩ 47 kΩ 2.7 kΩ 1 kΩ 12 V IG= CONST 100 Ω 100 nF D.U.T. + pulse width VGS 2200 μF VG VDD Figure 15. Test circuit for inductive load switching and diode recovery times AM01470v1 A D D.U.T. S B G 25 Ω A A B B RG G D S 100 µH µF 3.3 1000 µF VDD D.U.T. + _ + fast diode Figure 16. Unclamped inductive load test circuit AM01471v1 VD ID D.U.T. L VDD + pulse width Vi 3.3 µF 2200 µF Figure 17. Unclamped inductive waveform AM01472v1 V(BR)DSS VDD VDD VD IDM ID Figure 18. Switching time waveform AM01473v1 0 VGS 90% VDS 90% 10% 90% 10% 10% ton td(on) tr 0 toff td(off) tf STF36N60M6 Test circuits DS12609 - Rev 1 page 7/13 |
|
|
Lien URL |
| ALLDATASHEET vous a-t-il été utile ? [ DONATE ] |
À propos de Alldatasheet | Publicité | Contactez-nous | Politique de confidentialité | Lien vers la fiche technique | Echange de liens | Fabricants All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
| Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
|
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |