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LM61089B Fiches technique(PDF) 4 Page - Shanghai Leiditech Electronic Technology Co., Ltd |
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LM61089B Fiches technique(HTML) 4 Page - Shanghai Leiditech Electronic Technology Co., Ltd |
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4 / 6 page ![]() TEST METHOD AND CIRCUIT Holding current test circuit(test circuit 1) This is a conduction-cutoff test. The test circuit can ascertain the size of holding current. Test method : 1.Short out DUT, regulating current in IH range; 2.Triggering DUT with IPP=10A, 10/1000μs surge current; DUT needs to return to the off-state in the maximum 50ms Rev : www.leiditech.com 01.06.2018 4/6 LM61089B |
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