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AM29F002BB-55ED Fiches technique(PDF) 37 Page - Advanced Micro Devices |
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37 / 42 page ![]() November 1, 2006 21527D5 Am29F002B/Am29F002NB 35 D A TA SH EE T PLCC AND PDIP PIN CAPACITANCE Notes: 1. Sampled, not 100% tested. 2. Test conditions TA = 25°C, f = 1.0 MHz. DATA RETENTION Parameter Symbol Parameter Description Test Conditions Typ Max Unit CIN Input Capacitance VIN = 0 4 6 pF COUT Output Capacitance VOUT = 0 8 12 pF CIN2 Control Pin Capacitance VPP = 0 8 12 pF Parameter Test Conditions Min Unit Minimum Pattern Data Retention Time 150 °C10 Years 125 °C20 Years |
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