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MPS2907ARLRP Fiches technique(PDF) 3 Page - ON Semiconductor |
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MPS2907ARLRP Fiches technique(HTML) 3 Page - ON Semiconductor |
3 / 8 page ![]() MPS2907A http://onsemi.com 3 0 0 -16 V 200 ns 50 1.0 k 200 -30 V TO OSCILLOSCOPE RISE TIME ≤ 5.0 ns +15 V -6.0 V 1.0 k 37 50 1N916 1.0 k 200 ns -30 V TO OSCILLOSCOPE RISE TIME ≤ 5.0 ns INPUT Zo = 50 Ω PRF = 150 PPS RISE TIME ≤ 2.0 ns P.W. < 200 ns INPUT Zo = 50 Ω PRF = 150 PPS RISE TIME ≤ 2.0 ns P.W. < 200 ns Figure 1. Delay and Rise Time Test Circuit Figure 2. Storage and Fall Time Test Circuit TYPICAL CHARACTERISTICS Figure 3. DC Current Gain IC, COLLECTOR CURRENT (mA) 0.3 0.5 0.7 1.0 3.0 0.2 -0.1 TJ = 125°C 25°C -55°C VCE = -1.0 V VCE = -10 V 2.0 -0.2 -0.3 -0.5 -0.7 -1.0 -2.0 -3.0 -5.0 -7.0 -10 -20 -30 -50 -70 -100 -200 -300 -500 Figure 4. Collector Saturation Region IB, BASE CURRENT (mA) -0.4 -0.6 -0.8 -1.0 -0.2 0 IC = -1.0 mA -0.005 -10 mA -0.01 -100 mA -500 mA -0.02 -0.03 -0.05 -0.07 -0.1 -0.2 -0.3 -0.5 -0.7 -1.0 -2.0 -3.0 -5.0 -7.0 -10 -20 -30 -50 |
Numéro de pièce similaire - MPS2907ARLRP |
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Description similaire - MPS2907ARLRP |
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